[实用新型]按键测试装置

摘要

本申请实施例提供了一种按键测试装置，适于测试电子设备的待测试按键，按键测试装置包括基座、测试探针、按键按压装置以及测控模块。基座用于放置电子设备。测试探针包括第一探针和第二探针，第一探针以及第二探针均设置于基座上方，并可选择性地与测试接触点抵靠接触。按键按压装置设置于基座，按键按压装置具有按压部以及按压驱动装置，按压部与待测试按键相对设置，按压驱动装置驱动按压部按压待测试按键。测控模块和测试探针和按压驱动装置电连接。通过测试探针与按键按压装置的配合，实现对电子设备的按键的功能测试，整个测试过程由测控模块控制自动进行，实现了测试的自动化，提高了测试精度，避免了漏测等弊端。

主权项

1.一种按键测试装置，适于测试电子设备的待测试按键，所述电子设备具有测试接触点，其特征在于，所述按键测试装置包括：用于放置所述电子设备的基座；测试探针，所述测试探针包括第一探针和第二探针，所述第一探针以及所述第二探针均设置于所述基座上方，并可选择性地与放置于所述基座的所述电子设备的所述测试接触点抵靠接触；按键按压装置，所述按键按压装置设置于所述基座，所述按键按压装置具有按压部以及按压驱动装置，所述按压部与所述待测试按键相对设置，所述按压驱动装置驱动所述按压部按压所述待测试按键；以及测控模块，所述测控模块和所述测试探针和所述按压驱动装置电连接。