[实用新型]磁芯中柱检测装置有效
| 申请号： | 201821304048.1 | 申请日： | 2018-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN208505272U | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 汪国勇 | 申请（专利权）人： | 广州创芯旗自动化控制设备有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;林志荣 |
| 地址： | 511458 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种磁芯中柱检测装置，包括具有检测座的架体、直线位移传感器、下压机构以及推料机构，检测座中开设容纳磁芯的检测位，检测位具有开口，直线位移传感器固定于架体并位于检测座下方，检测座具有连通于检测位之下以露出磁芯中柱的检测孔，直线位移传感器的测量杆穿过检测孔并伸入到检测位中，检测孔，下压机构包括设于检测位上方并可上下移动的下压杆，推料机构包括朝向检测位的开口并可往复滑动的推料杆。磁芯被推料杆推入检测位中并由下压杆压紧定位，中柱将导致测量杆下移，根据下移量可得知中柱高度是否在误差范围内。研磨设备中设置本装置可检测中柱研磨效果是否合格，从而为定位治具的调整提供了参照，减少了不良品。 | ||
| 搜索关键词： | 检测座 检测 直线位移传感器 磁芯中柱 检测孔 检测装置 推料机构 下压机构 测量杆 推料杆 下压杆 磁芯 架体 下移 开口 本实用新型 可上下移动 朝向检测 定位治具 往复滑动 压紧定位 研磨设备 研磨 不良品 可检测 伸入 推入 连通 穿过 容纳 | ||
【主权项】：
1.一种磁芯中柱检测装置，其特征在于：包括架体、直线位移传感器、下压机构以及推料机构，所述架体设有检测座，所述检测座中开设容纳磁芯的检测位，所述检测位具有开口，所述直线位移传感器固定于所述架体并位于所述检测座下方，所述检测座具有连通于所述检测位之下以露出磁芯中柱的检测孔，所述直线位移传感器的测量杆穿过所述检测孔并伸入到所述检测位中，所述下压机构包括设于所述检测位上方并可上下移动的下压杆，所述推料机构包括朝向所述检测位的开口并可往复滑动的推料杆。
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