[实用新型]一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备有效

专利信息
申请号: 201821360272.2 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN208707561U 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 姜明宝;李盛楠;孟宪博 申请(专利权)人: 吉林华微电子股份有限公司
主分类号: H02P7/03 分类号: H02P7/03;G01R31/26
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 魏彦
地址: 132013 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请实施例提供了一种可控硅耐冲击性能测试电路和设备,其中,可控硅耐冲击性能测试电路,包括:开关控制电路和可控硅安装构件;可控硅安装构件设置有控制电压输入端、电源连接端、电机连接端和插孔;插孔用于安装可控硅,电源连接端用于连接第一交流电源,电机连接端用于连接电机,控制电压输入端与开关控制电路的信号输出端连接,开关控制电路用于控制电机进行周期性正转和反转。因此,通过开关控制电路控制两个可控硅进行交替导通,来自动控制电机进行周期性的交替正反转,从而实现对可控硅进行正反向冲击,对可控硅的耐冲击性能进行测试,解决了人工操作电机正反转对可控硅的耐冲击性能进行测试时,错误率高、效率低的问题。
搜索关键词: 可控硅 开关控制电路 耐冲击性能测试 控制电压输入端 电路 电源连接端 耐冲击性能 安装构件 电机连接 插孔 自动控制电机 电机正反转 信号输出端 测试 交流电源 交替导通 控制电机 连接电机 人工操作 错误率 正反向 正反转 反转 正转 申请
【主权项】:
1.一种可控硅耐冲击性能测试电路,其特征在于,包括:开关控制电路以及可控硅安装构件;所述可控硅安装构件设置有控制电压输入端、电源连接端、电机连接端以及插孔;所述可控硅安装构件的插孔用于安装可控硅;所述可控硅安装构件的电源连接端用于连接第一交流电源;所述可控硅安装构件的电机连接端用于连接电机;所述可控硅安装构件的控制电压输入端与所述开关控制电路的信号输出端连接;所述开关控制电路用于控制电机进行周期性正转和反转。
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