[实用新型]一种外延复合栅结构功率器件有效
申请号: | 201821429859.4 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN208674063U | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 范捷;万立宏;王绍荣 | 申请(专利权)人: | 江苏丽隽功率半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/49;H01L29/51;H01L29/78 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聂启新 |
地址: | 214067 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种外延复合栅结构功率器件,涉及半导体技术领域,该功率器件在传统功率器件的基础上采用了外延本征硅、氮氧化硅、氮化硅、氧化硅和半绝缘多晶硅构成的多层复合栅结构,沟道的不同位置用不同结构栅极,通过创新的结构设计和材料匹配降低了器件沟道区的漏电,降低缺陷密度,从而降低了栅极缺陷和寄生电容,提升了功率器件的产品性能和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 功率器件 复合栅 半导体技术领域 半绝缘多晶硅 本实用新型 器件沟道区 漏电 产品性能 传统功率 氮氧化硅 多层复合 寄生电容 结构栅极 本征硅 氮化硅 氧化硅 栅结构 沟道 匹配 | ||
【主权项】:
1.一种外延复合栅结构功率器件,其特征在于,所述外延复合栅结构功率器件包括:衬底,以及设置在所述衬底表面的外延层;设置在所述外延层内部的体区,以及设置在所述体区内部的源区;设置在所述外延层表面的复合栅结构,所述复合栅结构包括复合硅层、半绝缘多晶硅层、氮氧化硅层和本征硅,所述本征硅设置在所述外延层的表面,所述氮氧化硅层设置在所述外延层的表面且位于所述本征硅外侧,所述复合硅层设置在所述外延层的表面且位于所述氮氧化硅层的外侧,所述复合硅层包括氮化硅层以及形成在所述氮化硅层的氧化硅制备窗口中的氧化硅层,所述半绝缘多晶硅层设置在所述复合硅层的表面,所述半绝缘多晶硅层、氮氧化硅层和本征硅的上表面齐平;设置在所述复合栅结构表面的多晶硅层;设置在所述外延层的表面且覆盖所述多晶硅层的介质层;以及,设置在在所述外延层的表面且覆盖所述介质层的金属层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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