[实用新型]一种二极管改进型测试片有效

专利信息
申请号: 201821438500.3 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN209070069U 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 郏金鹏;王双 申请(专利权)人: 江苏佑风微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 常州市华信天成专利代理事务所(普通合伙) 32294 代理人: 何学成
地址: 213000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种二极管改进型测试片,包括铜质测试片主体,所述铜质测试片主体的左侧中部为镂空,所述铜质测试片主体的左侧固定连接有测试片接触头,本实用新型涉及芯片测试片技术领域。该一种二极管改进型测试片,达到了将原有的一体测试片改为头部双片的结构,此时测试片头部的弹力增加,利用靠内侧的半边测试片与测试管脚进行接触测试,同时只使用测试片头部单边测试片,材料成本降低一半有效降低管脚的形变风险的同时,使测试片的寿命增加了一倍,减少生产成本的目的,达到了对二极管进行固定,防止接触不良,提高测试的准确性,当使用侧的测试片达到使用寿命或损坏时,调换另一侧继续使用,提高测试片的使用寿命的目的。
搜索关键词: 测试片 二极管 测试片主体 改进型 铜质 本实用新型 使用寿命 片头 测试 材料成本 测试管脚 防止接触 接触测试 使用测试 寿命增加 芯片测试 镂空 接触头 原有的 半边 形变 管脚 试片 双片 生产成本 调换
【主权项】:
1.一种二极管改进型测试片,包括铜质测试片主体(1),其特征在于:所述铜质测试片主体(1)的左侧中部为镂空(3),所述铜质测试片主体(1)的左侧固定连接有测试片接触头(2),所述铜质测试片主体(1)的左侧靠近测试片接触头(2)的一侧为折弯加强处(4),所述铜质测试片主体(1)的右侧依次设置有大定位孔(5)、小定位孔(6),所述测试片接触头(2)的左侧设置有器件管脚接触点(7),所述铜质测试片主体(1)的下方设置有测试板(8),所述测试板(8)的右侧上下方均设置有安装孔(9),所述测试板(8)的左侧设置有滑动槽(10),所述测试板(8)的内部设置有移动块(11),所述移动块(11)的左侧固定连接有压缩弹簧(12),所述压缩弹簧(12)的左侧固定连接有挡板(13),所述挡板(13)与测试板(8)固定连接,所述移动块(11)的左侧固定连接有移动杆(14),所述移动杆(14)与挡板(13)滑动连接,所述移动杆(14)的左侧固定连接有工作台(15),所述工作台(15)与滑动槽(10)滑动连接,所述工作台(15)的表面设置有压缩框(16),所述压缩框(16)的内部固定连接有复位弹簧(17),所述复位弹簧(17)固定连接有运动块(18),所述运动块(18)固定连接有夹持杆(19),所述夹持杆(19)与压缩框(16)滑动连接,所述夹持杆(19)位于压缩框(16)外部的一端固定连接有夹持板(20)。
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