[实用新型]一种光学元件像差检测装置及系统有效
| 申请号： | 201821451255.X | 申请日： | 2018-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN208672282U | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 王雪辉;王建刚;雷桂明;温彬;许维;马云峰 | 申请（专利权）人： | 武汉华工激光工程有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王宁宁 |
| 地址： | 湖北省武汉市东湖开*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种光学元件像差检测装置及系统，用于解决光学元件的像差状态的有效测试的问题。所述装置包括：光源发射器、调制组件以及光斑检测分析仪，所述调制组件包括待测光学元件，所述光源发射器，用于发射无像差的平行光；所述调制组件，用于接收所述无像差的平行光，并将所述无像差的平行光通过所述待测光学元件后得到的有像差光聚焦到所述光斑检测分析仪；所述光斑检测分析仪，用于接收所述调制组件聚焦的有像差光，并根据所述有像差光聚焦产生的光斑信息得到所述待测光学元件的像差。 | ||
| 搜索关键词： | 像差 光学元件 调制组件 光斑检测 分析仪 平行光 像差检测装置 光源发射器 光聚焦 本实用新型 光斑信息 有效测试 聚焦 发射 | ||
【主权项】：
1.一种光学元件像差检测装置，其特征在于，所述装置包括：光源发射器、调制组件以及光斑检测分析仪，所述调制组件包括待测光学元件，所述光源发射器，用于发射无像差的平行光；所述调制组件，用于接收所述无像差的平行光，并将所述无像差的平行光通过所述待测光学元件后得到的有像差光聚焦到所述光斑检测分析仪；所述光斑检测分析仪，用于接收所述调制组件聚焦的有像差光，并根据所述有像差光聚焦产生的光斑信息得到所述待测光学元件的像差。
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