[实用新型]一种X射线的检测系统有效
| 申请号： | 201821527807.0 | 申请日： | 2018-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN209014494U | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 张丽;陈志强;孙运达;金鑫;常铭;许晓飞 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 彭琼 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例公开了一种X射线的检测系统，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 多列 第二探测器 第一探测器 检测系统 散射光束 探测 光源发生器 光束信号 透射光束 准直器 处理器 本实用新型 传动方向 多条光束 检测结果 交替排布 准直设备 发射 | ||
【主权项】：
1.一种X射线的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；所述第一探测器和所述第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；所述第一探测器，用于接收透过所述待探测物体后的多列透射光束信号；所述准直设备，用于对透过所述待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待探测物体的检测结果。
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