[实用新型]忆阻器和阻变式存储器有效
申请号: | 201821535391.7 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN208690303U | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 姚国峰;沈健 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人: | 范华英;毛威 |
地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例提供了一种忆阻器和阻变式存储器(RRAM)。忆阻器包括金属或者金属化合物制成的上电极、金属硼化物制成的下电极和阻变材料层制成的阻变层,所述阻变层设置在所述上电极与所述下电极之间。利用金属硼化物制备的RRAM电极完全兼容CMOS制造工艺,并且改善RRAM的产品性能。 | ||
搜索关键词: | 电极 忆阻器 金属硼化物 存储器 下电极 阻变层 金属化合物 阻变材料层 产品性能 制备 兼容 金属 申请 | ||
【主权项】:
1.一种忆阻器,其特征在于,所述忆阻器包括:金属或者金属化合物制成的上电极;金属硼化物制成的下电极;和阻变材料层制成的阻变层,所述阻变层设置在所述上电极与所述下电极之间。
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