[实用新型]一种半导体结构有效

专利信息
申请号: 201821570319.8 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN209087842U 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 巩金峰 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘星
地址: 230601 安徽省合肥市合肥*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供一种半导体结构,该半导体结构包括衬底、隔离沟槽、多条字线沟槽、栅极及导电层,其中,隔离沟槽形成于衬底中,以在衬底中界定出多个有源区,隔离沟槽下部依次填充有第一介质层与第二介质层;多条字线沟槽形成于衬底中,字线沟槽包括穿过有源区的栅极沟槽、穿过隔离沟槽的导电沟槽以及位于导电沟槽的底部两侧并与导电沟槽连通的微沟槽;栅极形成于栅极沟槽中;导电层形成于隔离沟槽上部,并填充微沟槽。该微沟槽中填充的导电层增加了导电沟槽的宽度,并且微沟槽的导电层与栅极的导电层连接形成一导电区域。本实用新型在不增加晶体管尺寸的同时,保证导电沟道宽度的增加,有利于提高存取晶体管的驱动电流和导通电流。
搜索关键词: 隔离沟槽 导电沟槽 导电层 微沟槽 衬底 半导体结构 字线沟槽 填充 本实用新型 栅极沟槽 介质层 源区 穿过 存取晶体管 导电层形成 导电沟道 导电区域 导通电流 驱动电流 栅极形成 晶体管 界定 连通 保证
【主权项】:
1.一种半导体结构,其特征在于,包括:衬底;隔离沟槽,形成于所述衬底中,以在所述衬底中界定出多个有源区,所述隔离沟槽下部依次填充有第一介质层与第二介质层;多条字线沟槽,形成于所述有源区和所述隔离沟槽中,所述字线沟槽包括穿过所述有源区的栅极沟槽、穿过所述隔离沟槽的导电沟槽以及位于所述导电沟槽的底部两侧并与所述导电沟槽连通的微沟槽;栅极,形成于所述栅极沟槽中;导电层,形成于所述隔离沟槽上部,并填充进所述微沟槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821570319.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top