[实用新型]一种功率半导体器件封装结构有效
申请号: | 201821595515.0 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN209045529U | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 武伟;王亮;林仲康;张朋;李现兵 | 申请(专利权)人: | 全球能源互联网研究院有限公司 |
主分类号: | H01L23/12 | 分类号: | H01L23/12;H01L23/31;H01L25/065 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 102209 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种功率半导体器件封装结构,该封装结构包括:至少一个封装子模组,该封装子模组包括:上垫片、功率芯片、下垫片、下框架和栅极探针,功率芯片设置于下垫片上;上垫片设置于功率芯片上;上垫片的尺寸不小于下垫片的尺寸,且上垫片的尺寸与下垫片的尺寸的差异小于预设差值;下框架设置于功率芯片和下垫片之间,下框架与功率芯片的终端区粘接,通过实施本实用新型,有效地减小了功率半导体器件封装时芯片的弯曲,避免了芯片因产生裂纹甚至发生脆断而失效;另一方面减小甚至消除了芯片终端和下框架之间的间隙,显著增加了芯片的耐压等级,满足电力系统对器件电压等级的要求,提高了功率半导体器件的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 功率芯片 下垫片 上垫片 下框架 功率半导体器件封装 本实用新型 芯片 子模组 减小 封装 功率半导体器件 电力系统 封装结构 器件电压 芯片终端 栅极探针 有效地 终端区 脆断 耐压 预设 粘接 | ||
【主权项】:
1.一种功率半导体器件封装结构,其特征在于,包括:至少一个封装子模组,所述封装子模组包括:上垫片、功率芯片、下垫片、下框架和栅极探针,所述功率芯片设置于所述下垫片上;所述上垫片设置于所述功率芯片上;所述上垫片的尺寸不小于所述下垫片的尺寸,且所述上垫片的尺寸与所述下垫片的尺寸的差异小于预设差值;所述下框架设置于所述功率芯片和所述下垫片之间,所述下框架与所述功率芯片的终端区粘接。
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