[实用新型]一种功率半导体器件封装结构有效
申请号: | 201821598528.3 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN209045530U | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 武伟;唐新灵;王亮;石浩;韩荣刚 | 申请(专利权)人: | 全球能源互联网研究院有限公司 |
主分类号: | H01L23/12 | 分类号: | H01L23/12;H01L23/31;H01L25/065 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 102209 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种功率半导体器件封装结构,该封装结构包括:至少一个封装子模组,包括:依次层叠设置的上垫片、功率芯片、芯片定位框架和下垫片,其中,上垫片的尺寸不小于下垫片的尺寸,且上垫片的尺寸与下垫片的尺寸的差异小于预设差值;芯片定位框架具有与芯片终端区接触的接触部,接触部和芯片终端区之间设置有粘接层,以使接触部和芯片终端区粘接,通过实施本实用新型,有效地减小了功率半导体器件封装时芯片的弯曲,避免了芯片因产生裂纹甚至发生脆断而失效,提高了功率半导体器件的可靠性;另一方面减小甚至消除了芯片终端和定位框架之间的间隙,显著增加了芯片的耐压等级,满足电力系统对器件电压等级的要求。 | ||
搜索关键词: | 芯片 功率半导体器件封装 上垫片 下垫片 终端区 本实用新型 芯片定位 减小 功率半导体器件 电力系统 定位框架 封装结构 功率芯片 器件电压 芯片终端 依次层叠 有效地 粘接层 子模组 脆断 耐压 预设 粘接 封装 | ||
【主权项】:
1.一种功率半导体器件封装结构,其特征在于,包括:至少一个封装子模组,所述子模组包括:依次层叠设置的上垫片、功率芯片、芯片定位框架和下垫片,其中,所述上垫片的尺寸不小于所述下垫片的尺寸,且所述上垫片的尺寸与所述下垫片的尺寸的差异小于预设差值;所述芯片定位框架具有与芯片终端区接触的接触部,所述接触部和所述芯片终端区之间设置有粘接层,以使所述接触部和所述芯片终端区粘接。
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