[实用新型]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201821626568.4 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN208674115U 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 刘峻;胡小龙;霍宗亮 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578;H01L27/11573;H01L27/11529
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛异荣;吴敏
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种半导体器件,包括:初始器件,所述初始器件包括焊盘,所述焊盘位于所述初始器件的表面,所述焊盘包括焊盘本体;位于所述焊盘周围的初始器件上、以及部分焊盘上的钝化结构层,所述钝化结构层中具有凹槽,所述凹槽的底部暴露出所述焊盘本体;位于所述钝化结构层上的感光保护层,所述感光保护层覆盖所述凹槽的侧壁,所述感光保护层中具有位于所述焊盘本体上的感光开口,所述感光开口延伸至所述凹槽中,且所述感光开口的口径小于所述凹槽的口径。所述半导体器件的性能得到提高。
搜索关键词: 焊盘 半导体器件 感光保护层 钝化结构 感光 开口 口径 侧壁 暴露 覆盖 延伸
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:初始器件,所述初始器件包括焊盘,所述焊盘位于所述初始器件的表面,所述焊盘包括焊盘本体;位于所述焊盘周围的初始器件上、以及部分焊盘上的钝化结构层,所述钝化结构层中具有凹槽,所述凹槽的底部暴露出所述焊盘本体;位于所述钝化结构层上的感光保护层,所述感光保护层覆盖所述凹槽的侧壁,所述感光保护层中具有位于所述焊盘本体上的感光开口,所述感光开口延伸至所述凹槽中,且所述感光开口的口径小于所述凹槽的口径。
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