[实用新型]半导体温控装置的测试设备有效
| 申请号： | 201821638561.4 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN209356628U | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 何茂栋;芮守祯;常鑫;赵力行;蒋俊海;于浩;邹昭平 | 申请（专利权）人： | 北京京仪自动化装备技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供了一种半导体温控装置的测试设备，包括：拨码开关，以及一侧与半导体温控装置上的开关量输入接口匹配的输入插头；所述输入插头的另一侧的每一子插头分别与所述拨码开关的一位的一端连接，所述拨码开关的一位的另一端与直流电源连接。本实用新型实施例中提供的半导体温控装置的测试设备，通过设置拨码开关以及输入插头，可以实现开关量输入接口中每个开关量输入子接口分别独立测试，也可以实现多个开关量输入子接口同时测试，效率高且更直观，操作简单，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体温控 拨码开关 测试设备 输入插头 开关量输入接口 本实用新型 开关量输入 子接口 直流电源连接 独立测试 一端连接 子插头 匹配 直观 测试 | ||
【主权项】：
1.一种半导体温控装置的测试设备，其特征在于，包括：拨码开关，以及一侧与半导体温控装置上的开关量输入接口匹配的输入插头；所述输入插头的另一侧的每一子插头分别与所述拨码开关的一位的一端连接，所述拨码开关的一位的另一端与直流电源连接。
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