[实用新型]多通道光学测试仪有效

专利信息
申请号: 201821730783.9 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN209296280U 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 张晓东;陆友峰;王黎明 申请(专利权)人: 康普技术有限责任公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 胡海滔
地址: 美国北卡*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开公开了一种多通道光学测试仪。多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量,并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根,用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线,所述光纤束由多根光纤构成,并且所述多根光纤在第一端束缚在一起,并且在第二端分散成单独的光纤线。多通道光学测试降低了插入损耗探测器的成本。
搜索关键词: 插入损耗 跳线 测试 多通道 探测器 光学测试仪 多根光纤 光学开关 光纤束 光源 连接器 光纤连接器 测试光纤 发射测试 光纤连接 光学测试 光学连接 光源光学 自动切换 第一端 光纤线 束缚
【主权项】:
1.一种多通道光学测试仪,其特征在于,所述多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量,所述多通道光学测试仪包括:光源,所述光源用于向待测试跳线发射测试光束;光学开关,所述光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根;和一个插入损耗探测器,所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根,用于测试光纤连接器的插入损耗;其中,所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线,所述光纤束由多根光纤构成,并且所述多根光纤在第一端束缚在一起,并且在第二端分散成单独的光纤线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于康普技术有限责任公司,未经康普技术有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821730783.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top