[实用新型]一种斗轴外圆的检具有效

专利信息
申请号: 201821737614.8 申请日: 2018-10-25
公开(公告)号: CN209027429U 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 陈超 申请(专利权)人: 泉州市金典机械发展有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362300 福建省泉州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开一种斗轴外圆的检具,属于检具技术领域,包括检测基板、斗轴套、斗轴、上顶尖、下顶尖、左顶尖、顶尖座一和顶尖座二,其特征在于:所述检测基板竖直布置,所述上顶尖包括圆锥体和圆柱体,所述圆锥体位于圆柱体的下端,且圆锥体和圆柱体同轴设置,所述圆柱体贯穿顶尖座一与圆锥体固定连接,所述上顶尖、下顶尖和左顶尖的结构均相同,所述下顶尖和顶尖座二活动连接,所述斗轴套位于检测基板的中间,所述上顶尖、下顶尖的一端均与斗轴套的上端面接触,所述检测基板上设有若干条定位槽,所述定位槽内设有滑轨,通过检具设置,结构简单,可快速对斗轴的外径进行检测。
搜索关键词: 顶尖座 上顶尖 下顶尖 圆锥体 基板 检具 检测 轴套 定位槽 轴外圆 左顶尖 斗轴 种斗 本实用新型 活动连接 竖直布置 同轴设置 上端面 滑轨 下端 贯穿
【主权项】:
1.一种斗轴外圆的检具,包括检测基板(4)、斗轴套(10)、斗轴、上顶尖(3)、下顶尖(6)、左顶尖(12)、顶尖座一(9)和顶尖座二(7),其特征在于:所述检测基板(4)竖直布置,所述上顶尖(3)包括圆锥体(2)和圆柱体(1),所述圆锥体(2)位于圆柱体(1)的下端,且圆锥体(2)和圆柱体(1)同轴设置,所述圆柱体(1)贯穿顶尖座一(9)与圆锥体(2)固定连接,所述上顶尖(3)、下顶尖(6)和左顶尖(12)的结构均相同,所述下顶尖(6)和顶尖座二(7)活动连接,所述斗轴套(10)位于检测基板(4)的中间,所述上顶尖(3)、下顶尖(6)的一端均与斗轴套(10)的上端面接触,所述检测基板(4)上设有若干条定位槽(8),所述定位槽(8)内设有滑轨,所述顶尖座一(9)和顶尖座二(7)的下端设有滑块(11),所述滑块(11)和滑轨配合,所述检测基板(4)的内部设有驱动装置,所述斗轴套(10)的内部设有轴孔(13),所述斗轴贯穿轴孔(13)与斗轴套(10)连接,所述斗轴套(10)分为上端部分(14)和下端部分(15),所述上端部分(14)的内径等于斗轴的最大极限尺寸,所述下端部分(15)的内径等于斗轴的最小极限尺寸。
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