[实用新型]一种半导体ATE芯片测试机

摘要

本实用新型公开了一种半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机和PXI机箱，PC计算机包含有若干PCle板卡、PCle×8电缆连接器，PCle板卡的输出端连接有PCle×8电缆连接器，PCle×8电缆连接器的输出端连接有若干PXle板卡，PXle板卡位于PXI机箱的内部。本实用新型中通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。

主权项

1.半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机(1)和PXI机箱(7)，其特征在于，所述PC计算机(1)包含有若干PCle板卡(2)、PCle×8电缆连接器(3)，所述PCle板卡(2)的输出端连接有PCle×8电缆连接器(3)，所述PCle×8电缆连接器(3)的输出端连接有若干PXle板卡(4)，所述PXle板卡(4)位于PXI机箱(7)的内部。