[实用新型]一种用于缺陷检测的系统有效
| 申请号： | 201821859462.9 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN209432714U | 公开（公告）日： | 2019-09-24 |
| 发明（设计）人： | 胡冰峰 | 申请（专利权）人： | 康代影像科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/958 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本案为一种缺陷检测系统，用于检测至少部分透明的物体的缺陷，该系统包括：透射暗场照明器，用于照射至少部分透明的物体;透射式明场照明器，用于照亮电路;探测器;用于检测穿过至少部分透明的物体的光，以提供代表电路图像的检测信号;所述探测器包括至少一个成像装置和检测单元，该成像装置用于对所述至少部分透明的物体在透射暗场照明和/或透射式明场照明模式下进行成像扫描，所述检测单元用于检测穿过至少部分透明的物体的光以提供检测信号;控制器，连接所述探测器，且用于接收所述成像装置的图像数据以及所述检测单元获取的检测信号以检测缺陷，合理结合了透射暗场照明器、透射式明场照明器、探测器、控制器，使得检测的结果更为精准。 | ||
| 搜索关键词： | 部分透明 检测 探测器 暗场照明 成像装置 检测信号 明场照明 透射式 透射 控制器 穿过 缺陷检测系统 成像扫描 单元获取 电路图像 缺陷检测 图像数据 电路 照射 照亮 | ||
【主权项】：
1.一种用于缺陷检测系统，用于检测至少部分透明的物体的缺陷，其特征在于，该系统包括：透射暗场照明器，用于照射至少部分透明的物体;透射式明场照明器，用于照亮电路;探测器;用于检测穿过至少部分透明的物体的光，以提供代表电路图像的检测信号;所述探测器包括至少一个成像装置和检测单元，该成像装置用于对所述至少部分透明的物体在透射暗场照明和/或透射式明场照明模式下进行成像扫描，所述检测单元用于检测穿过至少部分透明的物体的光以提供检测信号;控制器，连接所述探测器，且用于接收所述成像装置的图像数据以及所述检测单元获取的检测信号以检测缺陷。
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