[实用新型]用于电子设备的老化测试装置有效
| 申请号： | 201821867546.7 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN209132355U | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 刘海鸥 | 申请（专利权）人： | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括：箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本实用新型的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 老化测试装置 放置空间 测试装置 本实用新型 观察窗口 老化测试 开关件 取放口 箱体式结构 工作噪声 密封性能 物流成本 电连接 可活动 观察 取放 灵活 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，包括：箱体，所述箱体内具有放置空间，所述箱体上设有与所述放置空间相连通的取放口，所述箱体上设有用于观察所述放置空间内部情况的观察窗口；测试装置，所述测试装置和所述电子设备均设在所述放置空间内，所述电子设备与所述测试装置电连接；开关件，所述开关件可活动地设在所述箱体上以打开或关闭所述取放口。
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