[实用新型]一种辅助测试硅片电阻率的模具有效

专利信息
申请号: 201821875449.2 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN209513913U 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 马飞 申请(专利权)人: 内蒙古中环领先半导体材料有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08;G01R1/04
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 010070 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 一种辅助测试硅片电阻率的模具,包括模具本体。模具本体为圆柱形片状物,模具本体上设有测试孔,测试孔包括中心点测试孔和边缘点测试孔。中心点测试孔为圆柱孔,中心点测试孔置于模具本体中心部位。边缘点测试孔为长条状,边缘点测试孔包括四条,边缘点测试孔以中心点测试孔为中心放射状分布,四条边缘点测试孔呈“十”字形分布。本实用新型的有益效果是:结构简单、操作方便,在对硅片进行电阻率检测的时候,将本模具置于硅片上表面,硅片通过本模具透出五个孔,可使得硅片检测更加规范,中心点测试孔和四个边缘点测试孔相互配合,符合国际标准的五点测试法,提高了测试点准确性;测试更加便捷,测试效率高,生产成本低。
搜索关键词: 测试孔 边缘点 中心点 模具本体 硅片 模具 硅片电阻率 辅助测试 本实用新型 电阻率检测 生产成本低 中心放射状 测试效率 点测试法 圆柱形片 测试点 长条状 上表面 圆柱孔 状物 测试 检测 配合
【主权项】:
1.一种辅助测试硅片电阻率的模具,包括模具本体,其特征在于:所述模具本体为圆柱形片状物,所述模具本体上设有测试孔,所述测试孔包括中心点测试孔和边缘点测试孔,所述中心点测试孔为圆柱孔,所述中心点测试孔置于所述模具本体中心部位,所述边缘点测试孔为长条状,所述边缘点测试孔包括四条,所述边缘点测试孔以所述中心点测试孔为中心放射状分布,四条所述边缘点测试孔呈“十”字形分布,所述边缘点测试孔内设有限位装置。
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