[实用新型]一种多栅电池片测试装置有效
| 申请号： | 201821887785.9 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN209150050U | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 陈沁;许根俊;梅晓俊 | 申请（专利权）人： | 普德光伏技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H02S50/10 |
| 代理公司： | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人： | 黄丽莉 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种多栅电池片测试装置，包括：滑轨，探针杆，铜基材；所述滑轨上设有滑块；所述探针杆通过滑块固定在所述滑轨上；所述探针杆两端设有阵列布置的固定孔，用于调节探针杆水平位置；所述滑轨前端设有传送带；所述传送带与所述滑轨之间角度呈90度垂直布置；所述传送带数量为两条，用于传送电池片；所述铜基材固定在所述两个传送带下端中间及两侧。本实用新型通过将探针杆固定在可以调节的滑轨上，可以根据不同的工作需求来固定安装不同数目的探针杆，从而通过探针杆上的探针来测试多栅电池片，更可以简单方便的进行上下推动和更换铜基材，提高了工作效率，适应工作要求强。 | ||
| 搜索关键词： | 探针杆 滑轨 传送带 铜基材 多栅 电池片测试装置 本实用新型 电池片 滑块 垂直布置 工作效率 工作需求 工作要求 阵列布置 固定孔 探针 下端 传送 测试 | ||
【主权项】：
1.一种多栅电池片测试装置，其特征在于，包括：滑轨，探针杆，铜基材；所述滑轨上设有滑块；所述探针杆通过滑块固定在所述滑轨上；所述探针杆两端设有阵列布置的固定孔，用于调节探针杆水平位置；所述滑轨前端设有传送带；所述传送带与所述滑轨之间角度呈90度垂直布置；所述传送带数量为两条，用于传送电池片；所述铜基材固定在所述两个传送带下端中间及两侧。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
