[实用新型]小磁瓦微缺陷视觉检分装置

摘要

本实用新型提供一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置：包括圆盘、正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位、电磁铁剔除装置和磁瓦收集装置，正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和磁瓦收集装置周向均匀设置在圆盘正上方，磁瓦剔除机构与磁瓦收集装置配合使用；本实用新型电机转速、相机位置和电磁铁位置都可调，可根据实际的工程需要方便调试；整个型材框架装置底部装有万向轮方便搬运；经过相应工位检测后能准确检测出小磁瓦的品质好坏，并且能准确地在剔除小磁瓦，根据检测出来的小磁瓦合格或缺陷种类控制舵机滑梯的倾斜角度，使小磁瓦进入相应的存储仓。

主权项

1.小磁瓦微缺陷视觉检分装置，其特征在于：包括圆盘(3)、正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)、磁瓦剔除机构(7)和磁瓦收集装置(8)；/n所述正面检测工位(4)、上面检测工位(5)、反面监测工位(6)和磁瓦收集装置(8)周向均匀设置在圆盘(3)正上方；/n所述正面检测工位(4)包括相机一(4-1)、碗状光源一(4-4)和条形光源一(4-3)，条形光源一(4-3)的数量为两个；所述相机一(4-1)的镜头从圆盘(3)边缘位置朝向圆盘(3)中心位置；两个条形光源一(4-3)分别设置在相机一(4-1)的镜头的两侧，且两个条形光源一(4-3)正对着相机一(4-1)的镜头的正前方；所述碗状光源一(4-4)竖直向下朝向圆盘(3)且位于相机一(4-1)的镜头的正前方的正上方；/n所述上面检测工位(5)包括相机二(5-1)和碗状光源二(5-3)；所述碗状光源二(5-3)的轴心位置开孔，碗状光源二(5-3)竖直向下朝向圆盘(3)，相机二(5-1)的镜头对准碗状光源二(5-3)的轴心位置朝向圆盘(3)；/n所述反面监测工位(6)包括相机三(6-1)和条形光源三(6-3)，条形光源三(6-3)的数量为两个；所述相机三(6-1)的镜头从圆盘(3)中心位置朝向圆盘(3)边缘位置；两个条形光源三(6-3)分别设置在相机三(6-1)的镜头的两侧，且两个条形光源三(6-3)正对着相机三(6-1)的镜头的正前方；/n所述磁瓦剔除机构(7)与磁瓦收集装置(8)配合使用；/n所述磁瓦剔除机构(7)位于圆盘(3)中间位置的正上方；所述磁瓦剔除机构(7)包括带槽底板(7-1)、滑轨(7-2)和电磁铁(7-3)；所述带槽底板(7-1)上周向均匀设置有至少两个弧形的卡槽(7-5)；所述滑轨(7-2)沿着其长度方向等距设置有至少两个滑轨孔(7-6)，固定件(7-7)穿过滑轨孔(7-6)后伸入卡槽(7-5)从而固定滑轨(7-2)和带槽底板(7-1)；所述电磁铁(7-3)设置在滑轨(7-2)尾端；/n所述磁瓦收集装置(8)包括传送带(8-1)、舵机(8-3)、滑板(8-4)、滑梯(9-1)和分层储存仓；所述滑轨(7-2)尾端正对着传送带(8-1)首端，传送带(8-1)首端与圆盘(3)边缘连接，舵机(8-3)固定设置在传送带(8-1)尾端，滑板(8-4)首端通过舵机(8-3)与传送带(8-1)转动链接；所述分层储存仓包括从下到上依次的三个储存仓(9-2)，滑梯(9-1)的数量为三个，三个滑梯(9-1)尾端分别与三个储存仓连接，滑板(8-4)尾端与其中一个滑梯(9-1)首端连接。/n