[实用新型]一种探头性能测试配套装置

摘要

本实用新型提供一种探头性能测试配套装置，包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转。在测试时，首先确定探头的类型和该探头所需测试的性能，再根据探头的类型选择配套装置进行测试。本实用新型通过将三种不同类型的试块与支承装置的配合使用构成探头测试的专用配套装置，根据不同类型的探头以及探头需要测试的性能，能够自由选择试块，满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量、减少测试成本、提高测试效果。

主权项

1.一种探头性能测试配套装置，包括A型试块（1）、B型试块（2）、C型试块（3）和试块通用转动支承装置（4）；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转，其特征在于：/n所述A型试块（1）为具有正面、上端面、左端面、右端面、背面和底面的立方体状测试块体（1-1），在所述测试块体（1-1）的正面上设有与背面相通的横通孔（1-4）；所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔（1-8）；所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔（1-7）；所述底面（1-2）为上设有一段凸圆弧面（1-3）；所述正面设有三组刻线，第一组长度刻线a（1-10）位于正面与上端面交汇处，第二组刻线为角度刻线a（1-5）位于正面与底面平面交汇处，第三组角度刻线b（1-6）位于正面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处；在背面设有一组位于背面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处的长度刻线b（1-9）；/n所述B型试块（2）包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3），所述第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3）的圆心在同一直线上，所述第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径小于所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径，所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径小于第三扇体（2-3）的半圆柱体的半径，第三扇体（2-3）的半圆柱半径是第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体（2-1）和第二扇体（2-2）与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体（2-3）与圆弧面相对的侧立面为平面；/n所述C型试块（3）包括轴心在一条直线上并连成一体的第一半圆柱体（3-1）、第二半圆柱体（3-2）、第三半圆柱体（3-3）、第四半圆柱体（3-4）、第五半圆柱体（3-5）、第六半圆柱体（3-6）和第七半圆柱体（3-7），所述第一半圆柱体至第七半圆柱体的半径逐级减少；并且所述的七个半圆柱体侧立面的平面在同一平面上，在侧立面的平面、第一半圆柱体和第七半圆柱体的端面上设有C型试块平面刻线（3-8）和C型试块端面刻线（3-9）；/n所述试块通用转动支承装置（4）包括支架（4-1）、第一固定座（4-2）、第二固定座（4-3）、可滑动支架端（4-4）、第一轴（4-5）、第二轴（4-6）、第一定位销、第二定位销、防转轴销、第一顶轴（4-10）、第二顶轴（4-11）、第一螺帽（4-12）和第二螺帽（4-13），所述支架（4-1）的两端分别与第一固定座（4-2）和第二固定座（4-3）连接固定，所述支架（4-1）上表面开设滑槽，所述可滑动支架端（4-4）、第一顶轴（4-10）和第二顶轴（4-11）嵌入在所述滑槽内滑动，第一螺帽（4-12）和第二螺帽（4-13）分别将第一顶轴（4-10）和第二顶轴（4-11）固定限位在所述支架（4-1）的滑槽上，所述支架（4-1）一端具有竖板与所述可滑动支架端（4-4）相对设置，所述竖板上具有第一孔（4-7），所述可滑动支架端（4-4）具有第二孔（4-8）和第三孔（4-9），所述可滑动支架端（4-4）在支架的滑槽上滑动时，所述第一孔（4-7）和第二孔（4-8）的中心连线与两孔轴线方向重合，第一轴插在第一孔（4-7）中并由所述第一定位销将第一轴（4-5）固定，所述第二轴插在第二孔（4-8）中并由第二定位销将第二轴（4-6）固定，所述防转轴销插在第三孔（4-9）中。/n