[实用新型]一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统有效

专利信息
申请号: 201822087469.X 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN209281475U 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 杜娟;赵欢;胡跃明 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 王东东
地址: 511458 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统,包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头,将待测工件运送至检测位,使线性光源的出射光直射待测工件的表面,此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线,反射光接收板在摄像头的采集视野内,调整待测工件,使线性光能够遍历整个待检测区域,摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。本实用新型利用反射光线对高光物体表面的检测,能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大,检测结果更为精确。
搜索关键词: 待测工件 物体表面 反射光接收板 反射光线 高光 缺陷检测系统 本实用新型 摄像头 线性光源 反射光 待检测区域 摄像头采集 输入控制器 检测结果 接收平面 图像序列 控制器 直射 出射光 反射点 线性光 检测 遍历 反射 放大 采集 运送 视野
【主权项】:
1.一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统,其特征在于,包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头,将待测工件运送至检测位,使线性光源的出射光直射待测工件的表面,此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线,反射光接收板在摄像头的采集视野内,调整待测工件,使线性光源的出射光能够遍历整个待检测区域,摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。
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