[实用新型]多通道flash芯片测试装置有效
申请号: | 201822116678.2 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN209248512U | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 胡小明 | 申请(专利权)人: | 浙江永泰隆电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人: | 张瑜 |
地址: | 314500 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种多通道flash芯片测试装置,包括电源接口、MCU主控模块、至少一个芯片专用夹具和LCD显示模块,所述电源接口、至少一个芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接;电源接口选用带有USB通讯芯片的电源接口;多个芯片专用夹具与MCU主控模块可以实现多路flash芯片同时测试;设置EEPROM模块与MCU主控模块连接,可以实现测试数据的存储;设置切换按钮可以实现对多路测试的切换查看。本实用新型的多通道flash芯片测试装置,设计合理,可靠性高,可以提高测试效率并输出具体寿命报告数据。 | ||
搜索关键词: | 电源接口 测试装置 专用夹具 多通道 芯片 本实用新型 测试数据 测试效率 多路测试 设置切换 按钮 多路 存储 测试 输出 | ||
【主权项】:
1.一种多通道flash芯片测试装置,包括电源接口,其特征在于:该测试装置还包括MCU主控模块、芯片专用夹具和LCD显示模块,所述电源接口、芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江永泰隆电子股份有限公司,未经浙江永泰隆电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201822116678.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通用性硬盘测试接口
- 下一篇:一种电脑主板不插处理器实现上电的电路