[实用新型]一种近场太赫兹波光谱成像系统有效
| 申请号： | 201822129740.1 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN209356405U | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 鲁远甫;佘荣斌;刘文权;李光元;焦国华;吕建成 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提出一种近场太赫兹波光谱成像系统，利用衰减全反射模块的全反射原理，在衰减全反射模块的表面形成太赫兹波倏逝场，如此待测样品紧贴上述表面就能达到近场探测的目的。衰减全反射模块的使用能够直接承载待测样品而不需要设计单独的夹具，因而在检测样品，甚至是在体检测时使用都更加方便。此外，采用光控法实现太赫兹波段的单像素成像，由于调制掩膜是投影在体材料衰减全反射模块上，因而对投影面位置的精确度要求也不需要很高。进一步结合太赫兹时域光谱测量原理，通过重构不同时刻的太赫兹光场信号，从而使用更短的时间达到了高分辨率太赫兹多光谱成像的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 衰减全反射 太赫兹波 光谱成像系统 待测样品 近场 太赫兹时域光谱 夹具 单像素成像 多光谱成像 全反射原理 太赫兹波段 投影面位置 表面形成 测量原理 高分辨率 检测样品 近场探测 在体检测 光控法 体材料 倏逝场 光场 掩膜 重构 调制 紧贴 投影 承载 申请 | ||
【主权项】：
1.一种近场太赫兹波光谱成像系统，所述系统的基础光路为：飞秒激光器(1)输出的激光被分成两路；一路经过延迟线(3)后汇聚于太赫兹发射天线(4)；另一路聚焦于太赫兹探测天线(6)；所述太赫兹发射天线(4)产生的太赫兹波信号与待测样品(9)发生相互作用后被聚焦到接收端的太赫兹探测天线(6)；其特征在于：所述系统还包括衰减全反射模块(8)，所述太赫兹发射天线(4)产生的太赫兹波在所述衰减全反射模块(8)中发生全反射，进而在所述衰减全反射模块(8)的全反射面(82)形成太赫兹倏逝场，所述待测样品(9)直接承载在所述衰减全反射模块(8)的所述全反射面(82)上。
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