[实用新型]一种能减少漏电流的可寻址测试芯片及其测试系统有效
| 申请号： | 201822254087.1 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN209590170U | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 蓝帆 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02 |
| 代理公司： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人： | 王静 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种能减少漏电流的可寻址测试芯片及其测试系统。所述测试芯片包括开关电路、寻址电路、若干待测器件和若干焊盘；寻址电路的输出端连接到开关电路的输入端；开关电路的输出端与待测器件的输入端相连，通过开关的通断状态选定待测器件；寻址电路包括若干译码器，开关电路包括多个传输门，其中若干个传输门为一组，同一组传输门的输入端连接到寻址电路中的同一个译码器；多组传输门按信号传递方向连接成多级传输门结构，其中高一级的传输门的输出端连接到与之相连的低一级传输门的输入端，最低一级传输门的输出端与待测器件的测试信号线相连。本实用新型能够在测量过程中有效地减少漏电流。 | ||
| 搜索关键词： | 待测器件 开关电路 寻址电路 传输门 漏电流 输入端 译码器 可寻址测试芯片 本实用新型 输出端连接 测试系统 一级传输 输出端 组传输 测试信号线 输入端连接 有效地减少 测量过程 测试芯片 多级传输 通断状态 信号传递 门结构 焊盘 | ||
【主权项】：
1.一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，包括开关电路、寻址电路、若干待测器件和若干焊盘；寻址电路的输出端连接到开关电路的输入端，寻址电路控制开关电路中开关的通断；开关电路的输出端与待测器件的输入端相连，通过开关的通断状态选定待测器件；其特征在于，寻址电路包括若干译码器，开关电路包括多个传输门，其中若干个传输门为一组，同一组传输门的输入端连接到寻址电路中的同一个译码器；多组传输门按信号传递方向连接成多级传输门结构，其中高一级的传输门的输出端连接到与之相连的低一级传输门的输入端，最低一级传输门的输出端与待测器件的测试信号线相连。
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