[实用新型]便捷测试式触摸屏功能片有效

专利信息
申请号: 201822267990.1 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN209590189U 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 岳辉 申请(专利权)人: 惠州易晖光电材料股份有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 刘羽
地址: 516006 广东省惠州市惠澳大*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种便捷测试式触摸屏功能片,包括屏体,对位测试模组、刻蚀电路层及通道阻抗测试模组。通过设置多个普通对位块和多个对位倍数块,可快速寻找出不良的通道线路,减少了因数数消耗的时间和精力,同时,避免了错数漏数的现象,将合格的通道线路错当不良通道线路进行测试,进而损坏了原来合格的通道线路。通过将邦定金手指、银桥及测试金手指设置成一体,可以直接将测试治具对测试金手指进行测试,代替了传统的测试治具在邦定金手指上测试,一方面,保护了邦定金手指,避免了邦定金手指损坏,另一方面,设置银桥能提高通道阻抗测试的准确度。
搜索关键词: 测试 通道线路 触摸屏功能 测试模组 通道阻抗 金手指 对位 本实用新型 测试治具 刻蚀电路 快速寻找 准确度 传统的 对位块 屏体 消耗
【主权项】:
1.一种便捷测试式触摸屏功能片,其特征在于,包括:屏体,对位测试模组,所述对位测试模组包括多个普通对位块及多个对位倍数块,各所述普通对位块间隔设置于所述屏体上,且各所述对位倍数块间隔设置于所述屏体上,每相邻两个所述对位倍数块之间的所述普通对位块的数量相同;刻蚀电路层,所述刻蚀电路层设置于所述屏体上;及通道阻抗测试模组,所述通道阻抗测试模组包括多条阻抗测试桥,各所述阻抗测试桥间隔设置于所述屏体上,且各所述阻抗测试桥分别与所述刻蚀电路层电连接,在一条所述阻抗测试桥中,所述阻抗测试桥包括顺序连接的邦定金手指、银桥及测试金手指,所述邦定金手指与所述刻蚀电路层电连接。
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