[发明专利]高压碳化硅肖特基二极管倒装芯片阵列有效
申请号: | 201880000328.X | 申请日: | 2018-04-08 |
公开(公告)号: | CN108701694B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 王兆伟;丘树坚 | 申请(专利权)人: | 香港应用科技研究院有限公司 |
主分类号: | H01L27/08 | 分类号: | H01L27/08;H01L29/16;H01L29/872 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国香港新界沙田香港*** | 国省代码: | 香港;81 |
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摘要: | 一种碳化硅芯片阵列包括碳化硅衬底、在碳化硅衬底的顶部的碳化硅层、连接到碳化硅衬底的第一金属接触件、以及分别连接到第一部分和第二部分的两个第二金属接触件。碳化硅层比碳化硅衬底更薄,并具有更低的掺杂度。碳化硅层包括彼此分离的第一部分和第二部分。每个第二金属接触件与第一金属接触件都形成一个半导体器件。第一部分和第二部分中的至少一个包含一个相对于碳化硅衬底而倾斜的侧面。这种结构提高了击穿电压,并降低了所得碳化硅二极管阵列的漏电流。 | ||
搜索关键词: | 高压 碳化硅 肖特基 二极管 倒装 芯片 阵列 | ||
【主权项】:
1.一种碳化硅芯片阵列,包括:a)碳化硅衬底;b)碳化硅层,其在所述碳化硅衬底的顶部,所述碳化硅层比所述碳化硅衬底更薄,并具有更低的掺杂度;所述碳化硅层包括彼此分离的第一部分和第二部分;c)第一金属接触件,其连接到所述碳化硅衬底;d)两个第二金属接触件,其分别连接到所述第一部分和所述第二部分,每个所述第二金属接触件与所述第一金属接触件都形成一个半导体器件;其中所述第一部分和所述第二部分中的至少一个包含一个相对于所述碳化硅衬底而倾斜的侧面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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