[发明专利]集成光感检测显示设备及其制造方法有效
| 申请号： | 201880002305.2 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN109643380B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 杨盛际;董学;陈小川;王辉;卢鹏程 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H10K59/60 | 分类号： | H10K59/60;H10K59/65;H10K59/40;H10K59/12;G06V40/13 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 柴亮;张天舒 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种具有子像素区域和子像素间区域的集成光感检测显示基板。集成光感检测显示基板包括：基底基板；多个发光元件，其位于所述基底基板上并且构造为发射光，所述光的一部分被表面全反射从而形成全反射光；遮光层，其位于所述多个发光元件与所述基底基板之间，构造为阻挡漫反射光的至少一部分穿过，所述遮光层具有位于所述子像素间区域中的光路孔，以允许所述全反射光的至少一部分穿过，从而形成信号丰富光束；衍射光栅层，其构造为至少部分地使信号丰富光束准直，从而形成准直光束；以及光传感器，其构造为检测准直光束。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 检测 显示 设备 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成光感检测显示基板，其具有子像素区域和子像素间区域，所述集成光感检测显示基板包括：基底基板；多个发光元件，其位于所述基底基板上并且构造为发射光，所述光的一部分被表面全反射从而形成全反射光；遮光层，其位于所述多个发光元件与所述基底基板之间并且构造为阻挡漫反射光的至少一部分穿过，所述遮光层具有位于所述子像素间区域中的光路孔，以允许所述全反射光的至少一部分穿过，从而形成信号丰富光束；衍射光栅层，其位于所述基底基板的远离所述光路孔的一侧并且构造为至少部分地使所述信号丰富光束准直，从而形成准直光束；以及光传感器，其位于所述衍射光栅层的远离所述基底基板的一侧并且构造为检测所述准直光束，从而检测指纹信息。
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