[发明专利]沸石膜和分离膜在审
申请号: | 201880007165.8 | 申请日: | 2018-01-16 |
公开(公告)号: | CN110198916A | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 石川真二;俵山博匡;奥野拓也;斋藤崇广;近江靖则;上野恭平 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社;国立大学法人岐阜大学 |
主分类号: | C01B39/38 | 分类号: | C01B39/38;B01D69/10;B01D69/12;B01D71/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 王海川;张泉陵 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种沸石膜,其为在无机氧化物多孔基材上形成的MFI型沸石膜,其中,在所述沸石膜的通过以CuKα射线作为射线源的X射线衍射测定得到的衍射图谱中,在以衍射角7.3°~8.4°处显示的、晶格面归属于011和/或101面的衍射峰的强度为基准时,在衍射角8.4°~9.0°处显示的、晶格面归属于200和/或020面的衍射峰的强度为0.3以上。 | ||
搜索关键词: | 沸石膜 晶格面 衍射峰 衍射角 归属 无机氧化物 多孔基材 分离膜 基准时 射线源 衍射 图谱 | ||
【主权项】:
1.一种沸石膜,其为在无机氧化物多孔基材上形成的MFI型沸石膜,其中,在所述沸石膜的通过以CuKα射线作为射线源的X射线衍射测定得到的衍射图谱中,在以衍射角7.3°~8.4°处显示的、晶格面归属于011和/或101面的衍射峰的强度为基准时,在衍射角8.4°~9.0°处显示的、晶格面归属于200和/或020面的衍射峰的强度为0.3以上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电气工业株式会社;国立大学法人岐阜大学,未经住友电气工业株式会社;国立大学法人岐阜大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880007165.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:二氟磷酸锂的制造方法
- 下一篇:低反应性次氯酸钙成形制品