[发明专利]粒子表征装置和方法在审
| 申请号： | 201880012215.1 | 申请日： | 2018-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN110312922A | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张秋实;陈爽 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种用于确定粒子特性的装置，其中包含待被分析的粒子的流动路径被生成。光检测系统检测从测量区域接收的已经由粒子散射的光。粒子停留在测量区域中的持续时间被测量以确定有效空气动力学粒子直径，并且所检测到的接收光峰值强度被测量以确定有效光学粒子直径。与粒子的形状和/或密度相关的另外的粒子参数也被获取。除了仅获取粒子大小之外，这种方法还使得使用单级光学分析系统能够获取更多信息。附加信息可以用于更准确地表征粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 测量 光学分析系统 光检测系统 附加信息 粒子表征 粒子参数 粒子特性 流动路径 有效光学 有效空气 动力学 接收光 检测 散射 单级 地表 停留 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定粒子特性的装置，包括：入口(30)和出口(32)；流动系统(33)，所述流动系统(33)用于生成在所述入口(30)与所述出口(32)之间的流动路径，包含待被分析的粒子的加速流沿着所述流动路径被提供；光源(34)，所述光源(34)用于将光提供给所述流动路径，其中所述光的包络限定测量区域，所述测量区域具有大于1cm的长度；光检测器(38)，所述光检测器(38)用于检测从所述测量区域接收的已经由所述粒子散射的光；以及控制器(41)，所述控制器(41)用于分析所检测到的接收光，其中所述控制器适于：确定粒子停留在所述测量区域中的持续时间，并且从而确定有效空气动力学粒子直径；确定所检测到的接收光峰值强度，并且从而确定有效光学粒子直径；确定与所述粒子的形状和/或密度相关的另外的粒子参数。
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