[发明专利]电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统在审
| 申请号： | 201880012777.6 | 申请日： | 2018-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN110325874A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 冈田浩希;内田绘梨;皆川博幸;高山喜央;小野光夫;长谷部笃史;河合克敏;金山幸年 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01S7/486 | 分类号： | G01S7/486;G01J1/42;G01N21/49;G01S17/89 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 向勇;宋晓宝 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、存储部(19)、以及控制部(20)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)具有多个检测元件。多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。存储部(19)存储包括发射的电磁波的发射方向的第一关联信息。控制部(20)基于多个检测元件中的检测出电磁波的反射波的检测元件的位置来更新第一关联信息。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电磁波 电磁波检测装置 关联信息 存储部 反射波 照射部 照射 电磁波检测系统 照射位置 发射 存储 更新 | ||
【主权项】：
1.一种电磁波检测装置，包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息；以及控制部，基于在所述多个检测元件中的检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。
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