[发明专利]用于确定基于激光的颗粒探测器的操作条件的方法有效
| 申请号： | 201880013094.2 | 申请日： | 2018-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN110326175B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | U·魏希曼;J·W·黑尔米格;A·M·范德莱;H·J·门希 | 申请（专利权）人： | 通快光电器件有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/183 | 分类号： | H01S5/183;H01S5/00;H01S5/062;G01N15/02;G01S7/4913;G01N15/14;H01S5/026;H01S5/065;G01N15/00;G01N15/10 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于确定颗粒探测器(200)的操作条件的方法，所述颗粒探测器用于探测流体中的具有小于20μm、优选地小于10μm的尺寸的颗粒的颗粒密度，其中，所述颗粒探测器(200)包括激光器(111)，其中，所述激光器是多模垂直腔表面发射激光器，所述方法包括以下步骤：向所述激光器(111)提供驱动电流，使得所述激光器发射激光束(112)，在预先定义的驱动电流范围内改变驱动电流，确定作为所述驱动电流的函数的、所述激光器(111)的激光腔内的光波的强度信号，确定作为所述驱动电流的函数的、所述强度信号的噪声度量，确定使所述噪声度量低于预先定义的阈值的驱动电流范围，通过从所确定的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的驱动电流来确定所述颗粒探测器(200)的操作条件的至少一部分。本发明还涉及一种颗粒探测器(200)和包括所述颗粒探测器(200)的移动设备(190)。最后，本发明涉及相关的计算机程序产品。 | ||
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【主权项】：
1.一种用于确定颗粒探测器(200)的操作条件的方法，所述颗粒探测器用于探测流体中的具有小于20μm、优选地小于10μm的尺寸的颗粒的颗粒密度，其中，所述颗粒探测器(200)包括激光器(111)，其中，所述激光器是多模垂直腔表面发射激光器，所述方法包括以下步骤：向所述激光器(111)提供驱动电流，使得所述激光器发射激光束(112)，在预先定义的驱动电流范围内改变所述驱动电流，确定作为所述驱动电流的函数的、所述激光器(111)的激光腔内的光波的强度信号，确定作为所述驱动电流的函数的、所述强度信号的噪声度量，确定使所述噪声度量低于预先定义的阈值的驱动电流范围，通过从所确定的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的驱动电流来确定所述颗粒探测器(200)的操作条件的至少一部分，在所述颗粒探测器(200)的操作期间探测触发事件，在所述颗粒探测器(200)的操作期间确定所述激光器(111)的激光腔内的光波的激光腔中的强度信号的噪声度量，如果所述噪声度量在所述颗粒探测器(200)的操作期间超过操作阈值，则确定新的驱动电流范围，通过从所确定的新的驱动电流范围中选择用于颗粒探测的新的驱动电流来确定所述颗粒探测器的操作条件的至少一部分。
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