[发明专利]质量分析器有效
| 申请号： | 201880013825.3 | 申请日： | 2018-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN110392918B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 赛义德·鲍姆塞勒克;柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂;戴夫·安德森 | 申请（专利权）人： | ATONARP株式会社 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于扫描样本气体的质量分析器。质量分析器(10)包括：电离器(20)，用于从样本(29)产生离子；滤质器(30)，其具有累积器部(32)，累积器部(32)集成在滤质器中，并且在从滤质器喷射之前累积过滤离子；以及离子检测器(50)，其被配置为检测从滤质器喷射的离子。滤质器可以包括四极阵列(33a)并且累积器部包括离子阱阵列(38)。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析器 | ||
【主权项】：
1.一种质量分析器，包括：电离器，用于从样本产生离子；滤质器，其具有累积器部，所述累积器部集成在所述滤质器中，并且在从所述滤质器喷射过滤离子之前对所述过滤离子进行累积；以及离子检测器，其被配置为检测从所述滤质器喷射的离子。
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