[发明专利]用于增材制造在建评估和校正激光指向精度的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201880015421.8 申请日: 2018-01-11
公开(公告)号: CN110402173A 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 维克托·彼得罗维奇·奥斯特韦克霍夫;哈里·柯克·小马修斯;贾斯汀·约翰·小甘伯恩;杰森·哈里斯·卡普;凯文·乔治·哈丁;斯科特·迈克尔·米勒 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B33Y30/00
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 增材制造系统包括激光设备,构建板,第一扫描设备和对齐系统。激光设备构造为生成激光束。构建板具有相对于激光设备的位置。第一扫描设备构造成选择性地将激光束引导穿过构建板。激光束在构建板上生成熔池。对齐系统包括基准标记投影仪,其构造成在构建板上投射多个基准标记。每个基准标记在构建板上具有位置。对齐系统还包括光学检测器,其构造成检测构建板上的每个基准标记的位置。对齐系统构造成检测构建板相对于激光设备的位置。
搜索关键词: 构建 对齐系统 基准标记 激光设备 扫描设备 激光束 光学检测器 激光束引导 评估和校正 投影仪 激光指向 制造系统 检测 熔池 投射 穿过 制造
【主权项】:
1.一种增材制造系统,其特征在于,包括:激光设备,所述激光设备被构造为生成激光束;构建板,所述构建板具有相对于所述激光设备的位置;第一扫描设备,所述第一扫描设备被构造为选择性地在所述构建板上引导所述激光束,其中所述激光束在所述构建板上生成熔池;和对齐系统,所述对齐系统包括:基准标记投影仪,所述基准标记投影仪被构造为在所述构建板上投射多个基准标记,每个基准标记具有在所述构建板上的位置;和光学检测器,所述光学检测器被构造为检测所述构建板上的每个所述基准标记的所述位置,其中所述对齐系统被构造为检测所述构建板相对于所述激光设备的所述位置。
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