[发明专利]测试装置与用于测试电路板的方法有效
申请号: | 201880015627.0 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN110383091B | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 克里斯蒂安·温德尔;贝恩德-乌利齐·奥特;彼得·勃兰特 | 申请(专利权)人: | 艾克斯塞拉公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 王小衡;王朝辉 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种测试装置以及一种用于测试电路板(特别是未经装配或经部分装配的电路板)的方法。测试装置为具有梭或两个子梭的飞针,梭或两个子梭可以交替方式将待测试的电路板位移至测试区域。另外,子梭可用于共同固持大型电路板。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 用于 电路板 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试电路板的测试装置,所述电路板特别为未经装配或经部分装配的电路板,其中该测试装置包含被配置以接触待测试的电路板(2)的电路板测试点的多个测试指状物(4),且所述测试指状物(4)在每种情况下设有一测试探针(47),其中所述测试指状物(4)可移动以使得所述测试指状物可利用其测试探针(47)接触一预定测试区域(8)中的任何点,且提供一梭(5、6)以将电路板(2)在接收区域(7)与该测试区域(8)之间运输,其特征在于,该梭系由两个子梭(5、6)形成,每个子梭被布置在一平面中并可沿着该接收区域(7)与该测试区域(8)之间的位移路径位移,其中,所述位移路径平行且邻接彼此延伸,且所述子梭(5、6)中的每一个包含固持区域,其中在每种情况下可借助一个或多个固持组件来固持一个电路板(2)。
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