[发明专利]具有与存取装置耦合的主体连接线的设备有效
申请号: | 201880015646.3 | 申请日: | 2018-02-13 |
公开(公告)号: | CN110383477B | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | D·C·潘迪;刘海涛;C·穆利;S·D·唐 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一些实施例包含一种具有与竖直延伸半导体柱相关联的晶体管的设备。所述晶体管包含位于所述竖直延伸半导体柱内的上部源极/漏极区域、位于所述竖直延伸半导体柱内的下部源极/漏极区域及位于所述竖直延伸半导体柱内且介于所述上部与下部源极/漏极区域之间的沟道区域。所述晶体管还包含沿着所述沟道区域的栅极。字线与所述晶体管的所述栅极耦合。数字线与所述晶体管的所述下部源极/漏极区域耦合。可编程装置与所述晶体管的所述上部源极/漏极区域耦合。主体连接线位于所述字线上方且与所述字线平行地延伸。所述主体连接线具有穿透到所述竖直延伸半导体材料柱中的横向边缘。所述主体连接线具有不同于所述半导体材料柱的组成。 | ||
搜索关键词: | 具有 存取 装置 耦合 主体 连接线 设备 | ||
【主权项】:
1.一种设备,其包括:晶体管,其与竖直延伸半导体柱相关联且包括位于所述竖直延伸半导体柱内的上部源极/漏极区域、位于所述竖直延伸半导体柱内的下部源极/漏极区域及位于所述竖直延伸半导体柱内且介于所述上部与下部源极/漏极区域之间的沟道区域;所述晶体管还包括沿着所述沟道区域的栅极;字线,其与所述晶体管的所述栅极耦合;数字线,其与所述晶体管的所述下部源极/漏极区域耦合;可编程装置,其与所述晶体管的所述上部源极/漏极区域耦合;及主体连接线,其位于所述字线上方且与所述字线平行地延伸;所述主体连接线具有穿透到所述竖直延伸半导体材料柱中的横向边缘;所述主体连接线包括不同于所述半导体材料柱的组成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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