[发明专利]电子测试器有效
申请号: | 201880015746.6 | 申请日: | 2018-02-27 |
公开(公告)号: | CN110383092B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | J·约万诺维奇;K·W·德博;S·C·斯代普斯;S·E·琳赛 | 申请(专利权)人: | 雅赫测试系统公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/00;G01R1/02;G01R31/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 李健;李晶晶 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 描述了一种测试装置。各种部件有助于测试装置的功能,包括插入和移除装置,热柱,独立万向接头,包括光检测器,热控制方法的组合,插座盖中的检测电路,带支座的支柱和电压重定向。 | ||
搜索关键词: | 电子 测试 | ||
【主权项】:
1.一种测试装置,包括:框架;插槽组件,所述插槽组件设置在框架上;插槽组件接口,所述插槽组件接口设置在所述插槽组件上;保持结构,所述保持结构用于放置保持多个微电子器件的盒;水平输送装置,所述水平输送装置可操作地将所述盒从第一位置水平移动到第二位置以进入所述插槽组件;垂直输送装置,所述垂直输送装置可操作以使所述盒和所述插槽组件相对于彼此沿第一垂直方向移动,以使所述插槽组件接口与所述盒上的盒接口接合;和测试器,所述测试器通过第一插槽组件接口和所述盒接口连接,以至少向每个微电子器件提供电力以测量微电子器件的性能,所述垂直传输装置可操作以使所述盒和所述插槽组件在第二垂直方向上相对于彼此移动,所述第二垂直方向与所述第一垂直方向相反,以使所述插槽组件接口与所述盒接口脱离,并且所述水平输送装置可操作以将所述盒从第二位置水平移动到所述插槽组件外部的第一位置。
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