[发明专利]电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统有效
| 申请号： | 201880018333.3 | 申请日： | 2018-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN110431442B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 冈田浩希;内田绘梨;皆川博幸;高山喜央;小野光夫;长谷部笃史;河合克敏;金山幸年 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/894 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 向勇;宋晓宝 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、存储部(13)、以及控制部(14)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)具有多个检测元件。多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。存储部(13)存储关联信息。关联信息是将电磁波的发射方向与分别限定路径上的两点的要素中的任意两个相关联的信息。路径是从照射部(11)发射的电磁波经由对象(ob)至第一检测部(17)的路径。控制部(14)基于电磁波的发射方向以及在多个检测元件中检测到电磁波的反射波的检测元件的位置来更新关联信息。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波 检测 装置 程序 以及 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电磁波检测装置，包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储将所述电磁波的发射方向与分别限定从所述照射部发射的电磁波经由所述对象到所述第一检测部为止的路径上的两点的要素中的任意两个相关联的关联信息；以及控制部，基于所述电磁波的发射方向以及在所述多个检测元件中检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述关联信息。
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