[发明专利]涂层切削工具在审

专利信息
申请号: 201880019670.4 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN110431254A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 埃里克·林达尔;里纳斯·冯菲安特 申请(专利权)人: 山特维克知识产权股份有限公司
主分类号: C23C28/04 分类号: C23C28/04;C23C16/40;C23C30/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 王潜;郭国清
地址: 瑞典桑*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 发明公开了一种涂层切削工具以及制造这样的涂层切削工具的方法,所述涂层切削工具包含涂有多层耐磨涂层的基材,所述涂层包含α‑Al2O3层和沉积在α‑Al2O3层上的碳氮化钛TixCyN1‑y层,其中0.85≤x≤1.3并且0.4≤y≤0.85,其中所述TixCyN1‑y具有通过使用CuKα辐射和θ‑2θ扫描的X射线衍射测量并且根据Harris公式定义的织构系数TC(hkl),其中I(hkl)是所述(hkl)反射的测量强度(积分面积);I0(hkl)是根据42‑1489号JCPDS卡的标准粉末衍射数据的标准强度;n是计算中使用的反射数量,并且其中所使用的(hkl)反射是(111)、(200)、(220)、(311)、(331)、(420)和(422);并且其中TC(111)≥3。
搜索关键词: 切削工具 反射 粉末衍射数据 公式定义 耐磨涂层 碳氮化钛 织构系数 多层 基材 沉积 测量 扫描 制造
【主权项】:
1.一种涂层切削工具,其包含涂有多层耐磨涂层的基材,所述多层耐磨涂层包含α‑Al2O3层和沉积在所述α‑Al2O3层上的碳氮化钛TixCyN1‑y层,其中0.85≤x≤1.3,优选1.1≤x≤1.3,并且0.4≤y≤0.85,其中所述TixCyN1‑y具有通过使用CuKα辐射和θ‑2θ扫描的X射线衍射测量并且根据Harris公式定义的织构系数TC(hkl):其中I(hkl)是(hkl)反射的测量强度(积分面积);I0(hkl)是根据42‑1489号JCPDS卡的标准粉末衍射数据的标准强度;n是计算中使用的反射的数量,并且其中所使用的(hkl)反射是(1 1 1)、(2 0 0)、(2 2 0)、(3 1 1)、(3 3 1)、(4 2 0)和(4 2 2);并且其中TC(1 1 1)≥3。
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