[发明专利]光掩模坯料、光掩模及光掩模的制造方法有效

专利信息
申请号: 201880021110.2 申请日: 2018-04-02
公开(公告)号: CN110462510B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 坂本好史;小岛洋介;长友达也 申请(专利权)人: 凸版光掩模有限公司
主分类号: G03F1/32 分类号: G03F1/32;G03F1/50;G03F1/80
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 常海涛;孙微
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的是提供一种具有良好的晶圆转印特性和耐照射性的光掩模坯料和光掩模。光掩模坯料(200)是为了制作曝光波长193nm的光掩模所使用的光掩模坯料(200),所述光掩模坯料(200)具备:透光性基板(103);形成在该透光性基板(103)上且带来相移效应的相移膜(102),相移膜(102)对曝光光的透光率为30%以上;和形成在该相移膜(102)上的遮光膜(101)。相移膜(102)是通过层叠使用了氮化硅系材料的第1相移膜(102b)、和使用了氮氧化硅系材料的第2相移膜(102a)而构成的,所述第1相移膜(102b)的折射率n1为2.5以上2.75以下,衰减系数k1为0.2以上0.4以下,所述第2相移膜(102a)的折射率n2为1.55以上2.20以下,衰减系数k2大于0且为0.1以下。
搜索关键词: 光掩模 坯料 制造 方法
【主权项】:
1.一种光掩模坯料,其是为了制作适应波长193nm的曝光光的光掩模所使用的光掩模坯料,其特征在于,/n所述光掩模坯料包括:/n透光性基板;/n形成在该透光性基板上且带来相移效应的相移膜;和/n形成在所述相移膜上的遮光膜,/n所述相移膜是通过层叠使用了氮化硅系材料的第1相移膜、和使用了氮氧化硅系材料的第2相移膜而构成的,/n所述相移膜对所述曝光光的透光率为30%以上,/n所述第1相移膜的折射率n1为2.5以上2.75以下,所述第2相移膜的折射率n2为1.55以上2.20以下,/n所述第1相移膜的衰减系数k1为0.2以上0.4以下,所述第2相移膜的衰减系数k2大于0且为0.1以下。/n
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