[发明专利]光掩模坯料、光掩模及光掩模的制造方法有效
申请号: | 201880021110.2 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN110462510B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 坂本好史;小岛洋介;长友达也 | 申请(专利权)人: | 凸版光掩模有限公司 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32;G03F1/50;G03F1/80 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 常海涛;孙微 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明的目的是提供一种具有良好的晶圆转印特性和耐照射性的光掩模坯料和光掩模。光掩模坯料(200)是为了制作曝光波长193nm的光掩模所使用的光掩模坯料(200),所述光掩模坯料(200)具备:透光性基板(103);形成在该透光性基板(103)上且带来相移效应的相移膜(102),相移膜(102)对曝光光的透光率为30%以上;和形成在该相移膜(102)上的遮光膜(101)。相移膜(102)是通过层叠使用了氮化硅系材料的第1相移膜(102b)、和使用了氮氧化硅系材料的第2相移膜(102a)而构成的,所述第1相移膜(102b)的折射率n |
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搜索关键词: | 光掩模 坯料 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模坯料,其是为了制作适应波长193nm的曝光光的光掩模所使用的光掩模坯料,其特征在于,/n所述光掩模坯料包括:/n透光性基板;/n形成在该透光性基板上且带来相移效应的相移膜;和/n形成在所述相移膜上的遮光膜,/n所述相移膜是通过层叠使用了氮化硅系材料的第1相移膜、和使用了氮氧化硅系材料的第2相移膜而构成的,/n所述相移膜对所述曝光光的透光率为30%以上,/n所述第1相移膜的折射率n1为2.5以上2.75以下,所述第2相移膜的折射率n2为1.55以上2.20以下,/n所述第1相移膜的衰减系数k1为0.2以上0.4以下,所述第2相移膜的衰减系数k2大于0且为0.1以下。/n
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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