[发明专利]粒子检测装置和粒子检测方法有效

专利信息
申请号: 201880024135.8 申请日: 2018-02-13
公开(公告)号: CN110506201B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 饭岛和树;丰岛俊薫;古川琴浩;片山晃治;神尚孝;关实 申请(专利权)人: 东曹株式会社;国立大学法人千叶大学
主分类号: G01N15/12 分类号: G01N15/12;B03B5/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的课题在于提供一种能够逐个且连续地检测广范围的粒子的粒子检测装置和粒子检测方法。通过如下的粒子检测装置来解决这个课题,该粒子检测装置包括根据粒子的粒径向垂直于流体流动的方向分离粒子的粒子分离流路和以分支形式连接于所述粒子分离流路的两个以上的粒子回收流路,该粒子检测装置的特征在于,所述粒子回收流路具备包括光阑和电检测器的粒子检测部。
搜索关键词: 粒子 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种粒子检测装置,包括根据粒子的粒径向垂直于流体流动的方向分离粒子的粒子分离流路和以分支形式连接于所述粒子分离流路的两个以上的粒子回收流路,所述粒子检测装置的特征在于,/n所述粒子回收流路具备包括光阑和电检测器的粒子检测部。/n
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