[发明专利]用于确定和/或监视填充水平的方法有效

专利信息
申请号: 201880025346.3 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN110520698B 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 丹尼尔·米勒;克劳斯·潘克拉茨;西蒙·格雷思 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
主分类号: G01F25/00 分类号: G01F25/00;G01F23/284;G01F23/296
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于通过填充水平测量装置(3)确定和/或监视过程设施的容器(2)中的填充物质(1)的填充水平(L)的方法,所述填充水平测量装置根据行程时间原理工作,并且在测量操作(O)中在所述容器(2)中的所述填充物质(1)的方向上发射被发射的信号(S),并且基于在所述容器(2)中反射回的信号部分查明回波曲线(EK),所述回波曲线表示反射回的信号部分的振幅(A)随行程时间(t)变化,其中所述回波曲线(EK)被发射到上级控制单元(4),和/或创建包络所述回波曲线(EK)的包络曲线(HK)并将包络曲线(HK)发射到所述上级控制单元(4),其中所述回波曲线(EK)和/或包络曲线(HK)由所述上级控制单元(4)评估。
搜索关键词: 用于 确定 监视 填充 水平 方法
【主权项】:
1.一种用于通过填充水平测量装置(3)确定和/或监视过程设施的容器(2)中的填充物质(1)的填充水平(L)的方法,所述填充水平测量装置根据行程时间原理工作,并且在测量操作(O)中在所述容器(2)中的所述填充物质(1)的方向上发射被发射的信号(S),并且基于在所述容器(2)中反射回的信号部分查明回波曲线(EK),所述回波曲线表示反射回的信号部分的振幅(A)随行程时间(t)变化,/n其中,所述回波曲线(EK)被发射到上级控制单元(4),和/或创建包络所述回波曲线(EK)的包络曲线(HK)并将所述包络曲线(HK)发射到所述上级控制单元(4),/n其中,所述回波曲线(EK)和/或所述包络曲线(HK)由所述上级控制单元(4)评估,其中在评估所述回波曲线(EK)和/或所述包络曲线(HK)时,识别所述回波曲线(EK)和/或所述包络曲线(HK)的想要的回波信号(WE),其行程时间(t)用作查明当前填充水平(L)的基础,/n其中,在确定和/或监视所述填充水平(L)期间,所述填充物质(1)和/或所述容器(2)经历至少一个当前过程(P1,..),/n其中,在所述上级控制单元(4)中提供有关至少一个当前过程(P1,..)的信息,并且/n其中,基于与所述当前过程(P1;..)有关的信息,检查所述想要的回波信号(WE)的似真性,和/或评估——尤其是所述想要的回波信号(WE)的识别——动态地适应于所述当前过程(P1;..)。/n
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