[发明专利]具有集成式错误校正的DRAM存储器在审

专利信息
申请号: 201880027666.2 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN110546617A 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: S·S·科塔马苏 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C8/16
代理公司: 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 林斯凯<国际申请>=PCT/US2018
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 存储器模块(100)包含存储器阵列(101),所述存储器阵列(101)具有耦合到所述存储器阵列(101)的主要存取端口(103)。错误校正逻辑(102)耦合到所述存储器阵列(101)。统计数据寄存器(111)耦合到所述错误校正逻辑(102)。次要存取端口(112)耦合到所述统计数据寄存器(111)以允许通过外部装置(120)对所述统计数据寄存器(111)进行存取而不使用所述主要存取端口(103)。
搜索关键词: 存储器阵列 耦合到 存取端口 统计数据 寄存器 错误校正 存储器模块 外部装置 存取
【主权项】:
1.一种模块,其包括:/n存储器阵列;/n主要存取端口,其耦合到所述存储器阵列;/n错误校正逻辑,其耦合到所述存储器阵列;/n统计数据寄存器,其耦合到所述错误校正逻辑;以及/n次要存取端口,其耦合到所述统计数据寄存器以通过外部装置提供对所述统计数据寄存器的存取。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德州仪器公司,未经德州仪器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880027666.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top