[发明专利]测定装置以及测定方法有效

专利信息
申请号: 201880027692.5 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN110573856B 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 高须良三 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 金雪梅;王海奇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提高质量浓度的精度。测定装置具备:选择部(15),参照存储多个相对于气体的湿度的上述气体中的粒子的质量浓度与上述气体中的粒子的计数浓度的相关的存储部(13),从多个上述相关选择两个相关;以及质量浓度计算部(16),其于选择的上述两个相关、通过第一计数浓度测定器测定出的气体中的粒子的计数浓度以及通过第一湿度计测定出的上述气体的湿度,计算上述气体中的粒子的质量浓度。
搜索关键词: 测定 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种测定装置,其特征在于,具备:/n选择部,参照存储相对于气体的湿度的所述气体中的粒子的质量浓度与所述气体中的粒子的计数浓度的多个相关的存储部,从多个所述相关选择两个相关;以及/n质量浓度计算部,基于所选择的两个所述相关、通过第一计数浓度测定器测定出的气体中的粒子的计数浓度以及通过第一湿度计测定出的所述气体的湿度,计算所述气体中的粒子的质量浓度。/n
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