[发明专利]用于测量振动的投射系统有效
申请号: | 201880028148.2 | 申请日: | 2018-03-19 |
公开(公告)号: | CN111095127B | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 朱利安·波提文;帕斯卡尔·皮卡尔特;凯文·赫加蒂;朱利安·勒默尔 | 申请(专利权)人: | 勒芒大学;国家科学研究中心;法国国立高等电信布列塔尼学院;朱勒凡尔纳技术研究学院 |
主分类号: | G03H1/00 | 分类号: | G03H1/00;G03H1/04;G01H9/00;G03H1/30 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 尚玲;陈万青 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于测量机械部件(M)的表面(VSURF)的振动的系统,该系统包括:辐射(L)源(源)、被配置成限定第一入射光线(LB1)和参考光线(RLB)的第一分离元件(EL1)、从所述第一入射光线(LB1)产生第二入射光线(LB2)的成形模块(DOEM)、能够对参考光线(RLB)和由所述第二入射光线(LB2)在所述表面(VSURF)上的反射产生的光线之合进行相干相加的光学元件(OE),所述成形模块(DOEM)包括一个或多个衍射光学元件(DOE1,…,DOEn),所述衍射光学元件中的每一个包括衍射第一入射光线(LB1)的全部或部分以便照射机械部件所选择的表面的至少一个衍射结构(FSTRUCT)。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 振动 投射 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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