[发明专利]非线性测量方法和非线性测量装置有效
| 申请号： | 201880029186.X | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN110582694B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 长谷川健美;林哲也 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;龙涛峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量待测量光纤的光学非线性的方法和装置，该待测量光纤设置有具有相互耦合的波导模式的多个芯部。该方法至少包括：准备步骤，布置发射激光的激光源以及获得光强的检测单元；光发射步骤，使激光入射到待测量光纤的特定芯部上；光检测步骤，从待测量光纤的反射光分量中获得生成为光学非线性的结果的特定波长分量的强度；以及分析步骤，基于特定波长分量的强度来获得待测量光纤的光学非线性。 | ||
| 搜索关键词： | 非线性 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量待测量光纤的光学非线性的非线性测量方法，所述待测量光纤包括第一端、与所述第一端相反的第二端、在所述第一端和所述第二端之间延伸并具有相互耦合的波导模式的多个芯部、以及围绕所述多个芯部的单个包层，所述非线性测量方法包括：/n准备步骤，准备激光源和检测单元，所述激光源和所述检测单元中的每个光学连接到所述待测量光纤的所述第一端处的所述多个芯部中的任一个特定芯部；/n光发射步骤，将来自所述激光源的激光在所述第一端处输入到所述特定芯部中；/n光检测步骤，在所述检测单元接收响应于入射到所述特定芯部中的所述激光而在所述第一端处从所述特定芯部发射的光之后，确定所述检测单元所接收的光中包括的波长分量中由所述待测量光纤的光学非线性引起的特定波长分量的强度；以及/n分析步骤，基于所述特定波长分量的强度来确定所述待测量光纤的光学非线性。/n
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