[发明专利]用于智能材料分析的设备和方法在审

专利信息
申请号: 201880030268.6 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN110603432A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: E.博韦罗 申请(专利权)人: 沙特阿拉伯石油公司
主分类号: G01M5/00 分类号: G01M5/00;G01B11/16;G01L1/24;G01M11/08
代理公司: 11105 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李文娟
地址: 沙特阿*** 国省代码: 沙特阿拉伯;SA
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摘要: 一种使用可移动检查设备检查包括光子材料的结构的方法,包括照射所述结构的一部分,接收从所述结构的所述部分中的光子材料衍射的辐射,根据以下的至少一种确定所述光子材料的变形:i)接收的辐射的强度,ii)接收的辐射的位置和iii)接收的辐射的波长;和确定变形幅度是否高于阈值。如果变形幅度高于阈值,则存储关于所述光子材料的变形的数据;相反,如果变形幅度不高于阈值:停止所述光子材料的位置处的检查并移动所述检查设备以检查所述结构的另一部分。
搜索关键词: 光子材料 变形幅度 辐射 检查设备 检查 变形的 可移动 位置处 波长 衍射 变形 照射 存储 移动
【主权项】:
1.一种使用可移动检查设备检查包括光子材料的结构的方法,所述方法包括:/n照射所述结构的一部分;/n接收从所述结构的所述部分中的光子材料衍射的辐射;/n根据以下的至少一种确定所述光子材料的变形:i)接收的辐射的强度,ii)接收的辐射的位置和iii)接收的辐射的波长;和/n确定变形幅度是否高于阈值;/n如果变形幅度高于阈值:/n存储关于所述光子材料的变形的数据;/n如果变形幅度不高于阈值:/ni)停止在所述光子材料的位置的检查;和/nii)移动所述检查设备以检查所述结构的另一部分。/n
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