[发明专利]用于参照多个传感器单元的方法以及相关的测量装置在审
| 申请号： | 201880030673.8 | 申请日： | 2018-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN110621957A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 瓦尔德马·戈尔斯辰纽 | 申请（专利权）人： | 乌本产权有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张春水;丁永凡 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于参照多个传感器单元(30)的方法，这些传感器单元可以围绕被测物体(2)布置以便测量该被测物体(2)的三维表面，还涉及一种用于测量被测物体的表面的相关测量装置。本发明的解决方案能够实现对被测物体的表面的更精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 被测物体 传感器单元 测量 相关测量装置 三维表面 | ||
【主权项】：
1.一种用于参照多个传感器单元(30)的方法，这些传感器单元能够围绕被测物体(2)布置以便测量该被测物体(2)的三维表面，/n其中每个传感器单元(30)具有经结构化的照射光源(31)以及与该照射光源处于固定间距的经校准的光学摄影机(39)，/n其中关于该摄影机(39)来校准该经结构化的照射光源(31)的光锥并且由该摄影机(39)拍摄的该经结构化的照射光的映像从二维像点向三维摄影机坐标的变换通过校准该传感器单元(30)来确定，/n其中该方法具有以下步骤：/n-在第一和第二传感器单元的摄影机的二维图像坐标中确定(110)多个参照点的位置，/n-在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中重构(120)该多个参照点的位置，/n-基于所重构的参照点的位置，确定(130)在该第一传感器单元的三维摄影机坐标与该第二传感器单元的三维摄影机坐标之间的变换，/n-借助所重构的参照点，在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中重构(140)该经结构化的照射光的映像的位置，/n-在该第一传感器单元和该第二传感器单元的三维摄影机坐标中确定(150)该经结构化的照射光的映像的三角测量位置，以及/n-基于该经结构化的照射光的映像的三角测量位置，修正(160)在该第一传感器单元的三维摄影机坐标与该第二传感器单元的三维摄影机坐标之间的变换。/n
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