[发明专利]气体测量系统在审
申请号: | 201880031033.9 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN110621980A | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
发明(设计)人: | F·文图里尼;P·伯格斯特龙;M·赫特尔 | 申请(专利权)人: | 梅特勒-托莱多有限公司 |
主分类号: | G01N21/3504 | 分类号: | G01N21/3504;G01N21/03;G01N21/39 |
代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 侯鸣慧 |
地址: | 瑞士格*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明涉及一种气体测量系统,其包括:相干光源(1、201、301、401),所述相干光源发射光束;探测器(8、208、308、408);光路(2、202、302),所述光路构造在所述光源(1、201、301、401)和所述探测器(8、208、308、408)之间;和气体室(4、204、304、404),所述气体室布置在所述光源(1、201、301、401)和所述探测器(8、208、308、408)之间的光路中,使得所述探测器(8、208、308、408)接收穿过所述气体室(4、204、304、404)透射的光;其中,所述气体室(4、204、304、404)包括多孔陶瓷(11、211、311、411);并且其中,所述气体室(4、204、304、404)具有光学路径长度,所述光学路径长度是所述气体室(4、204、304、404)的实际层厚度的数倍;其特征在于,此外在所述光源(1、201、301、401)和所述气体室(4、204、304、404)之间的光路(2、202、302)中还布置有光学元件(3、203、303、403);由所述光源(1、201、301、401)发出的光束在入射到所述气体室(4、204、304、404)中时被扩张并且不聚焦。 | ||
搜索关键词: | 气体室 探测器 光源 光路 光学路径 相干光源 气体测量系统 多孔陶瓷 发射光束 光路构造 光学元件 层厚度 入射 透射 穿过 聚焦 | ||
【主权项】:
1.一种气体测量系统,所述气体测量系统包括:/n-相干光源(1、201、301、401),所述相干光源发射光束;/n-探测器(8、208、308、408);/n-光路(2、202、302),所述光路构造在所述光源(1、201、301、401)和所述探测器(8、208、308、408)之间;/n-气体室(4、204、304、404),所述气体室布置在所述光源(1、201、301、401)和所述探测器(8、208、308、408)之间的光路中,使得所述探测器(8、208、308、408)接收穿过所述气体室(4、204、304、404)透射的光;和/n-光学元件(3、203、303、403),所述光学元件布置在所述光源(1、201、301、401)和所述气体室(4、204、304、404)之间的光路(2、202、302)中;/n其中,所述气体室(4、204、304、404)包括多孔陶瓷(11、211、311、411);/n其中,所述气体室(4、204、304、404)具有光学路径长度,所述光学路径长度是所述气体室(4、204、304、404)的实际层厚度的数倍;/n其特征在于,所述光学元件(3、203、303、403)/ni.是光学透明的窗并且基于所述光束的发散实现所述光束的扩张;/n或/nii.包括使所述光束变形的漫射器光学元件或者至少一个衍射光学元件,/n使得由所述光源(1、201、301、401)发出的光束在入射到所述气体室(4、204、304、404)中时被扩张并且不聚焦。/n
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